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當前位置：首頁  >  產品中心  >    >    >  XGT-1700WRX射線熒光光譜儀『Horiba RoHS/ELV/WEEE分析儀』

『Horiba RoHS/ELV/WEEE分析儀』

簡要描述：Horiba RoHS/ELV/WEEE分析儀 Horiba XGT-1700WR X射線熒光光譜儀

  • 產品型號：XGT-1700WRX射線熒光光譜儀
  • 廠商性質：代理商
  • 更新時間：2023-07-26
  • 訪  問  量：444

產品分類

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詳細介紹

品牌HORIBA/堀場

測定數據

黃銅中Cd41ppm?Pb495ppm 重復測定為例

照射徑Ø3mm?測定時間300秒

 Cd濃度（ppm）  Pb濃度（ppm）
 
1 37.3  509.2
 
2 41.2 488.4
 
3 40.2  492.9
 
4 46.8 486.5
 
5 43.3 482.6
 
平均值41.8 491.9
 
標準偏差 3.6 10.3
 
CV 8.5% 2.1%
無電解Ni鍍層（14.3μm）中 Pb700ppm 重復測定為例

照射徑Ø3mm?測定時間300秒
 Pb濃度（ppm） 膜厚（μm）
1 735.7 13.7
2 708.8 14.4
3 750  13.5
4 707.8 13.9
5 693 13
 
平均值 719.1 13.7
標準偏差 23.2  0.5
CV 3.2%  3.7%

產品性能
XGT-1700WR系列
X線照射徑  Ø3mm標準 Ø1.2mm或Ø100μm （可選）

一次X線濾膜
Ø3mm照射徑:4種自動切換
Ø1.2mm照射徑:5元素同時分析用濾膜或無濾膜
Ø100μm照射徑:無濾膜
 
二次X線濾膜
 用于金屬中有害元素高靈敏度測定的標準裝備
（ON/OFF自動切換）
 
X線檢測器
液體氮氣冷卻3L
高純度Si檢測器
樣品形狀
zui大460×360×149mm
 
 

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